扫描探针技术在半导体材料及器件表界面分析中的应用-湖南大学物理与微电子科学学院

扫描探针技术在半导体材料及器件表界面分析中的应用

创建于2020年12月10日星期四作者 : 科研办浏览量 :

主讲人：谢伟广，暨南大学教授
时间：2020年12月12日，15:30-16:30
地点：物电学院A栋316
联系人：胡袁源

讲座摘要：半导体微纳尺度的结构与物性解析对深入理解材料及器件物理具有重要的意义。本报告介绍基于扫描探针技术建立金属氧化物和钙钛矿材料在微纳尺度结构与光、电特性的关联图像；基于此发展表界面调控方法进行界面的光、电设计，获得高效光电探测及光伏性能；并探讨界面的多场耦合机制对输运及器件性能的影响。

主讲人简介：谢伟广，暨南大学教授，博士生导师。长期从事半导体薄膜与器件的表界面研究，重点融合表面分析技术、光电器件测试技术以及表/界面能带工程，发展材料表面、器件界面的跨尺度空间分辨的原位、实时的结构与光电性质的精确测量，由此揭示表/界面光子、电子和声子等新的物理现象及规律并实现应用。以第一作者/通讯作者在Advanced Materials, ACS Nano等期刊发表SCI论文40多篇，获授权专利5项。工作获得了Nature，Nature Materials等著名杂志多次正面评价。主持国家自然科学基金面上项目，广东省杰出青年基金等国家、省部级项目共6项。