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晶体管缺陷与可靠性模拟器—MARS

创建于2025年04月25日 星期五作者 : 李萍 浏览量 :

主讲人：刘岳阳，中科院半导体所研究员

时    间：2025年4月28日10:00

地    点：物电学院A栋316

联系人：唐黎明



讲座摘要：器件可靠性是影响集成电路稳定性的关键因素。随着晶体管在尺寸、构型以及材料方面持续演化，传统可靠性模拟已经难以满足精度、甚至正确度需求。针对这种情况，刘岳阳研究员团队率先提出并开发了原子精度的从头算可靠性模拟器MARS (Multiscale Ab initio Reliability Simulator)，并基于该模拟器精确复现了IMEC公布的28nm晶体管器件的可靠性实验数据等。该工作发表于2024年半导体与集成电路领域国际顶级会议International Electron Devices Meeting（IEDM）。本报告将详细介绍相关的研究背景、计算方法以及与实验测量的数据对比等。



主讲人简介：刘岳阳，中科院半导体所研究员。2012年和2017年在湖南大学获得学士和博士学位，2017年获得 “博士后创新人才支持计划”资助，加入中科院半导体所从事博士后研究，2019至2020年在美国劳伦斯伯克利国家实验室进行访学研究，同年正式入职中科院半导体所，2023年入选中科院高层次人才计划。长期从事晶体管器件输运与可靠性物理研究，以第一或通讯作者身份在IEDM、VLSI等半导体和集成电路领域国际顶级会议，以及 Advanced Materials、Physical Review B/Applied、Applied Physics Letters等期刊发表论文30余篇。



  • 中国 · 湖南省 · 长沙市 · 岳麓区湖南大学南校区 , 410082

  • 行政办公室：0731-88822332 学生工作办：0731-88821986 教学科研办：0731-88822627

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2025-04-25

作者：刘岳阳

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讲座摘要：器件可靠性是影响集成电路稳定性的关键因素。随着晶体管在尺寸、构型以及材料方面持续演化，传统可靠性模拟已经难以满足精度、甚至正确度需求。针对这种情况，刘岳阳研究员团队率先提出并开发了原子精度的从头算可靠性模拟器MARS (Multiscale Ab initio Reliability Simulator)，并基于该模拟器精确复现了IMEC公布的28nm晶体管器件的可靠性实验数据等。该工作发表于2024年半导体与集成电路领域国际顶级会议International Electron Devices Meeting（IEDM）。本报告将详细介绍相关的研究背景、计算方法以及与实验测量的数据对比等。



主讲人简介：刘岳阳，中科院半导体所研究员。2012年和2017年在湖南大学获得学士和博士学位，2017年获得 “博士后创新人才支持计划”资助，加入中科院半导体所从事博士后研究，2019至2020年在美国劳伦斯伯克利国家实验室进行访学研究，同年正式入职中科院半导体所，2023年入选中科院高层次人才计划。长期从事晶体管器件输运与可靠性物理研究，以第一或通讯作者身份在IEDM、VLSI等半导体和集成电路领域国际顶级会议，以及 Advanced Materials、Physical Review B/Applied、Applied Physics Letters等期刊发表论文30余篇。



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